GERİ DÖN
Ders Öğretim Planı
| Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|
| 9103055632019 | Product Characterization | Seçmeli Ders Grubu | 1 | 1 | 8,00 |
Dersin Seviyesi
Yüksek Lisans
Dersin Sunulduğu Dil
İngilizce
Dersin Amacı
Modern proses endüstrileri, özellikle yiyecek, ilaç, kişisel bakım ürünleri, ileri materyaller ve diğer formüle edilmiş ürünler gibi katma değeri olan mühendislik ürünlerine giderek daha fazla eğilmektedir. Ürün mühendisliğinin ayrılmaz bir bileşeni, nihai ürünün kritik mühendislik ve kimyasal özelliklerini tanımlayabilme yeteneğidir. Bu ders, öğrencilere, ürün karakterizasyonu için güncel deneysel teknikler hakkında bilgi ve deneyim kazandırmak için tasarlanmıştır. Öğrenciler bu dersi tamamladıktan sonra, bir ürünü analiz etmek için en uygun seçim tekniğini tanıyabilecek (sınırlamaları ve faydaları dahil) ve bu teknikleri seçilen ürünleri tanımlayabilmek için kullanmak üzere faydalanabileceklerdir.
Dersi Veren Öğretim Görevlisi/Görevlileri
Doç.Dr.İdil Y ılmaz İpek
Öğrenme Çıktıları
| 1 | Geniş bir ürün yelpazesi için karakterizasyon yöntem ve teknikleri hakkında temel bilgileri anlama |
| 2 | Bir ürünü analiz etmek için en uygun seçim tekniğini tanıyabilme |
| 3 | Belirli bir karakterizasyon problemi için uygun tekniklerin belirlenmesi |
| 4 | Üründeki yapı-özellik ilişkisi hakkında bilgi edinmek için ürünlerden elde edilen verilerin analizi ve yorumlanması |
| 5 | Malzeme tasarımı için yapı-özellik ilişkisi arasında ilişki kurabilme |
| 6 | Karakterizasyon tekniklerini uygulamaları ile öğrenme |
Öğretim Sistemi
Birinci Öğretim
Dersin Ön Koşulu Olan Dersler
Yok
Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar
Yok
Dersin İçeriği
-Malzeme karakterizasyonuna giriş -Malzeme karakterizasyonunda optik yöntemler (Görüntüleme, optik ve elektron optik mikroskoplar makro ölçekte nano ölçekli görüntüleme; Elektron-optik analitik ve görüntüleme) (EPMA/WDS, SEM/EDS, TEM/EDS, HRTEM) techniques) - X-ışını saçılması ve görüntülemenin temelleri (XRD) • - FTIR ve Raman spektroskopisi - Tarama probu mikroskopları; Atomik Kuvvet Mikroskobu, Taramalı Tünelleme Mikroskobu - Nükleer manyetik rezonans Spektroskopisi (NMR) • - Isı analizi; Diferansiyel Taramalı Kalorimetre, Termal Gravimetrik Analiz (TGA) • - Parçacık karakterizasyonu için ışık saçılımı (parçacık analizi, dinamik ışık saçılımı, santrifüjlü sedimantasyon, lazer kırınımı) - X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi ve Auger Elektron Spektroskopisi, İkincil İyon Kütle Spektrometresi (Yüzeye Özel Elektron Spektroskopik (XPS) ve Spektrometrik (SIMS) teknikleri) ile yüzey analizi
Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği
| Hafta | Konular (Teorik) | Öğretim Yöntem ve Teknikleri | Ön Hazırlık |
|---|---|---|---|
| 1 | Malzeme karakterizasyonuna giriş | ||
| 2 | Malzeme karakterizasyonunda optik yöntemler | ||
| 3 | Malzeme karakterizasyonunda optik yöntemler | ||
| 4 | Işını saçılması ve görüntülemenin temelleri (XRD) - FTIR ve Raman spektroskopisi | ||
| 5 | - Tarama probu mikroskopları; Atomik Kuvvet Mikroskobu, Taramalı Tünelleme Mikroskobu - NMR | ||
| 6 | • Isı analizi; Diferansiyel Taramalı Kalorimetre, Termal Gravimetrik Analiz (TGA) | ||
| 7 | • Parçacık karakterizasyonu için ışık saçılımı | ||
| 8 | Ara Sınav | ||
| 9 | X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi ve Auger Elektron Spektroskopisi, İkincil İyon Kütle Spektrometresi ((XPS) ve (SIMS) teknikleri) ile yüzey analizi | ||
| 10 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 11 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 12 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 13 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 14 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 15 | Karakterizasyon tekniklerinin uygulamaları | ||
| 16 | Final |
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
1. Advances in Materials Characterization, David R. Rossington, Robert A. Condrate and Robert l. Snyder, Plenum Press, New York, 1983. 2. Encyclopedia of Materials Characterization, C.Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr. Shaun Wilson, Manning Publications Co., USA, 1992. 3. Skoog, D.A., Holler, E.J., Crouch, S.R., Principles of Instrumental Analysis, Chapters 7-8, 2007, Thomson Coop., Canada. 4. Materials Characterization Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yang Leng, JohnWiley & Sons (Asia) Pte Ltd, 2008.
Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları
Etkinlikler ayrıntılı olarak "Değerlendirme" ve "İş Yükü Hesaplaması" bölümlerinde verilmiştir.
Değerlendirme
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | Adet | Değer |
|---|---|---|
| Ara Sınav | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | Adet | Değer |
| Final Sınavı | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 | |
Staj Durumu
Yok
İş Yükü Hesaplaması
| Etkinlikler | Sayısı | Süresi (saat) | Toplam İş Yükü (saat) |
|---|---|---|---|
| Derse Katılım | 14 | 3 | 42 |
| Tartışma | 14 | 3 | 42 |
| Rapor Hazırlama | 2 | 6 | 12 |
| Rapor Sunma | 2 | 3 | 6 |
| Makale Kritik Etme | 14 | 3 | 42 |
| Bireysel Çalışma | 14 | 3 | 42 |
| Okuma | 14 | 3 | 42 |
| Ev Ödevi | 2 | 6 | 12 |
| Toplam İş Yükü (saat) | 240 | ||
Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi
| PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | |
| ÖÇ 1 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | ||
| ÖÇ 2 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | ||
| ÖÇ 3 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | ||
| ÖÇ 4 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | ||
| ÖÇ 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | ||
| ÖÇ 6 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 |
* Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek