GERİ DÖN
Ders Öğretim Planı
| Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|
| 9103065602004 | Yüzey Karakterizasyon Teknikleri | Seçmeli Ders Grubu | 1 | 2 | 8,00 |
Dersin Seviyesi
Yüksek Lisans
Dersin Sunulduğu Dil
Türkçe
Dersin Amacı
Bu dersin amacı, temel mikro/nano yapısal malzeme ve yüzey karakterizasyon teknikleri ve bu alandaki gelişmelerin anlatılmasıdır.
Dersi Veren Öğretim Görevlisi/Görevlileri
Prof. Dr. Ibrahim Etem SAKLAKOGLU
Öğrenme Çıktıları
| 1 | 1. Kompozit yüzey analiz yöntemleri hakkında temel bilgileri kavrama |
| 2 | 2. Işık ve electron mikroskobu hakkında temel bilgileri kavrama |
| 3 | 4. Prop teknikleri hakkında temel bilgileri kavrama |
| 4 | 7. Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri hakkında temel bilgileri kavrama |
| 5 | 5. İyon Demeti Teknikleri hakkında temel bilgileri kavrama |
| 6 | 3. Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin yüzey gerilim ölçüm aleti ile belirlenmesi hakkında temel bilgileri kavrama |
| 7 | 6. Titremeli Spektroskopi hakkında temel bilgileri kavrama |
| 8 | 8. Elektrokimyasal Teknikler hakkında temel bilgileri kavrama |
Öğretim Sistemi
Birinci Öğretim
Dersin Ön Koşulu Olan Dersler
Yok
Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar
Yok
Dersin İçeriği
Elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar, Nano-ölçekte seyreden malzemelerin optik, elektronik, kimyasal ve mekanik özelliklerinin görüntüleme ve algılamasında kullanılan platformlar
Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği
| Hafta | Konular (Teorik) | Öğretim Yöntem ve Teknikleri | Ön Hazırlık |
|---|---|---|---|
| 1 | Elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar | ||
| 2 | Nano-ölçekte seyreden malzemelerin optik, elektronik, kimyasal ve mekanik özelliklerinin görüntüleme ve algılamasında kullanılan platformlar | ||
| 3 | Kompozit yüzey analizi: X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS), İkincil iyon Kütle Spektroskopi (SIMS), Auger Elektron Spektroskopi | ||
| 4 | Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin yüzey gerilim ölçüm aleti ile belirlenmesi | ||
| 5 | Işık ve electron mikroskobunun temel prensipleri | ||
| 6 | Işık mikroskobu: Optik mikroskop, Fluorescence Mikroskop, Aynı Odaklı Mikroskop | ||
| 7 | Elektron Mikroskop: TEM, SEM | ||
| 8 | Prop teknikleri: STM, AFM, SNOM | ||
| 9 | İyon Demeti Teknikleri: LEISS, RBS | ||
| 10 | Titremeli Spektroskopi: Kızılötesi ve Raman spektroskopi | ||
| 11 | Ara sınav | ||
| 12 | Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri: NMR | ||
| 13 | Elektrokimyasal Teknikler: Voltametrik teknikler, AC Alternatif Dienç Analizi | ||
| 14 | Karakterizasyon stratejileri, Problem analizi, Değişik teknikler ile çözünürlük ve ölçüm limitleri | ||
| 15 | Yöntem seçimi, Modelleme sonuçları, Data analizi. | ||
| 16 | Final |
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
• Vickerman J.C., Surface Analysis-The Principal Techniques, John Wiley and Sons,2004 • Alford, T.L., Feldman, F.C., Mayer, J.W., Fundamentals of Nanoscale Film Analysis, Springer, 2007 • Dinardo, N.J., Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces. 2nd ed., Wiley-VCH. 2004. • Golstein, J., Scanning Electron Microscopy and X-Ram Microanalysis. 3rd ed., Springer, 2003. • Watts, J.F., An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, Wiler 2003. • Wang, Z.L., Characterization of Nanophase Materials. Wiley-VCH, 2000. • Weinheim, E.L., X-ray characterization of materials, Wiley-VCH, 1999.
Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları
Etkinlikler ayrıntılı olarak "Değerlendirme" ve "İş Yükü Hesaplaması" bölümlerinde verilmiştir.
Değerlendirme
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | Adet | Değer |
|---|---|---|
| Ara Sınav | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | Adet | Değer |
| Final Sınavı | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 | |
Staj Durumu
Yok
İş Yükü Hesaplaması
| Etkinlikler | Sayısı | Süresi (saat) | Toplam İş Yükü (saat) |
|---|---|---|---|
| Ara Sınav | 1 | 2 | 2 |
| Final Sınavı | 1 | 2 | 2 |
| Derse Katılım | 14 | 4 | 56 |
| Bireysel Çalışma | 14 | 9 | 126 |
| Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma | 1 | 25 | 25 |
| Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma | 1 | 30 | 30 |
| Toplam İş Yükü (saat) | 241 | ||
Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi
| PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | |
| ÖÇ 1 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 2 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 3 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 4 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 5 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 6 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 7 | 5 | 3 | 3 | ||||
| ÖÇ 8 | 5 | 3 | 3 |
* Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek